1.  Неразрушающее тестирование запоминающих устройств : монография / Ярмолик В.Н. [и др.]. — ББК 32.973.2-045Издательство: Минск : Бестпринт, 2005Физическая характеристика: 229 с.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: