Тестовые структуры в системах управления качеством интергральных микросхем / А.И.Белоус, А.В.Емельянов, Г.Г.Чигирь

Автор(ы): Белоус, Анатолий Иванович;
                   Емельянов, А. В.;
                   Чигирь, Г. Г.Язык документа: Русский.Страна публикации: BY.Издательство: Мн. : Интегралполиграф, 2008Физическая характеристика: 207с.ISBN:978-985-6845-11-9.ББК: 32.844.15 ; 47.33.37Note(s): Лит. в кон. кажд. гл.Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
Брестская областная библиотека. Отдел хранения основного фонда
Выдается

Лит. в кон. кажд. гл.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: