Анализ нанотопографии поверхностей и локальных физико-механических свойств материалов с помощью атомно-силового микроскопа на базе камертонного датчика : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 ; 01.04.01 / Во Тхань Тунг ; Белорусский государственный университет
Нет никаких комментариев для этого документа.